Параметры спектрометра, используемого для этих задач:
- Измеряемые элементы: от Na до U.
- Диапазон содержания элементов: 1 ppm-99,99%.
- Возможность одновременного анализа 24 элементов.
- Анализ слоев покрытия толщиной до 0,005 µм каждого слоя, в том числе покрытий с более чем из 3-х слоев.
- Точность анализа: абс. 0,05% (когда содержание более 96%).
- Размер камеры: Ф320 х 100 мм.
- Использование метода РФА в рентгенофлуоресцентном спектрометре позволяет достичь быстрого и точного элементного анализа. Данная технология использует рентген низкой энергии, который дает хорошие результаты возбуждения легких элементов таких, как Si, S, Na и Mg. В России таких спектрометров всего два, оба в Москве, наш спектрометр более новой модели – 2025 г. выпуска.
